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1577:基础练习 芯片测试

题目描述
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。
给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。

输入解释
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行

中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1

表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身

进行测试)。
输出解释
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输入样例
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出样例
1 3

该题目包含在题集 基础练习

题目来源 蓝桥杯

共提交 567

通过率 57.85%
时间上限 内存上限
1000 MS 128 MB